Артикул: p6445714
21 раз
купили
Пока этой книги нет, получите
скидку 10% на любую другую книгу в наличии
По промокоду
BOOK24-Q2YP7Характеристики
- Издательство: Лань
- Серия: Учебники для вузов. Специальная литература м
- Год издания:2020
- Жанр: Учебники для вузов и колледжей
- ISBN:978-5-8114-4293-5
- Переплет: Мягкий переплёт
- Формат: 164x235 мм
- Общий тираж: 100
- Вес: 129 г
Описание
Рассматриваются возможные типы неисправностей, возникающих в цифровых объектах. Анализируются традиционные методы обработки реакций объектов, предлагаются два новых метода, ориентированные на поиск одиночных дефектов, - метод суммарного вектора и метод суммарных векторов. Для поиска кратных дефектов в системах параллельного диагностирования предлагается метод сравнения с неисправным объектом. Рассматривается способ повышения надежности коммутаторов за счет распараллеливания коммутаций.
Предназначено для студентов радиотехнических и компьютерных специальностей, аспирантов, исследователей в области технической диагностики.