Артикул: p6441142
Характеристики
- Издательство: Юрайт
- Серия: Профессиональное образование. Юрайт
- Год издания:2019
- Жанр: Физические науки
- ISBN:978-5-534-11822-3
- Переплет: Твёрдый переплёт
- Формат: 162x245 мм
- Вес: 460 г
Описание
В пособии рассмотрены физические основы кристаллографии, основы теории дифракции на трехмерной решетке (подход Лауэ), методы получения рентгеновского излучения и его основные свойства, основные направления структурного анализа, физические основы динамической теории рассеяния, интегральные методы анализа формы дифракционной линии, методы рентгеновской топографии, рассеяние под малыми углами. В каждую главу включены примеры решения типовых задач по изучаемой теме. В конце каждой главы приведены контрольные вопросы и задания, задачи для самостоятельной работы, а также рекомендуемая литература. В конце пособия помещен ряд приложений, в которых приведены сведения, необходимые для успешного овладения изучаемой дисциплиной. .Соответствует актуальным требованиям Федерального государственного образовательного стандарта среднего профессионального образования и профессиональным требованиям. .Для студентов среднего профессионального образования.