Лич Р.: Инженерные основы измерений нанометровой точности
Артикул: p6298574
Осталось 3 шт.
21 раз
купили
3149
p.
Характеристики
- Издательство: ИД Интеллект
- Год издания:2012
- Жанр: Информационные технологии
- ISBN:978-5-91559-119-5
- Формат: 149x216 мм
- Вес: 520 г
Описание
Книга последовательно рассматривает инженерные аспекты достижения нанометровой точности измерений перемещений и параметров рельефа поверхности, контроля параметров макрообъектов с помощью координатно-измерительных машин, различных зондовых, оптических и электронных средств измерений. Также рассмотрены вопросы прецизионных измерений масс.