Цветков Э.И.: Основы математической метрологии
Артикул: p6688467
21 раз
купили
Пока этой книги нет, получите
скидку 10% на любую другую книгу в наличии
По промокоду
BOOK24-4W8XFХарактеристики
- Издательство: Политехника
- Год издания:2005
- Жанр: Математические науки
- ISBN:5-7325-0793-0
- Формат: 146x220 мм
- Вес: 600 г
Описание
В монографии представлены основы теории математических моделей объектов, условий, процедур и средств измерений. Дан формализованный аппарат описания моделей объектов и процедур, свойств результатов и погрешностей результатов измерений. Представлено базовое алгоритмическое обеспечение метрологического анализа типовых процедур измерений. Книга предназначена для метрологов и специалистов-измерителей, ориентирующихся на использование современных информационных технологий, преподавателей, аспирантов и студентов вузов соответствующих специальностей.