Артикул: p6801954
Осталось 4 шт.
20 раз
купили
1359
p.
Характеристики
- Издательство: Инфра-Инженерия
- Год издания:2024
- Жанр: Технические науки
- ISBN:978-5-9729-1731-0
- Переплет: Твёрдый переплёт
- Формат: 154x217 мм
- Вес: 240 г
Описание
Кратко изложены основы сканирующей зондовой микроскопии. Рассмотрены принципы работы основных типов зондовых микроскопов (сканирующего туннельного микроскопа, атомно-силового микроскопа, электросилового микроскопа, магнитно-силового микроскопа, ближнепольного оптического микроскопа), наиболее широко используемых в научных исследованиях.
Для студентов факультета радиоэлектроники и автоматики. Может быть полезно специалистам, разрабатывающим наноустройства.