Лич Р.: Инженерные основы измерений нанометровой точности
Артикул: p6298574
Купили 21 раз
О товаре
Книга последовательно рассматривает инженерные аспекты достижения нанометровой точности измерений перемещений и параметров рельефа поверхности, контроля параметров макрообъектов с помощью координатно-измерительных машин, различных зондовых, оптических и электронных средств измерений. Также рассмотрены вопросы прецизионных измерений масс.
Характеристики
- Автор:
- Лич Р.
- Раздел:
- Информационные технологии
- Издательство:
- ИД Интеллект
- ISBN:
- Год издания:
- 2012
- Количество страниц:
- 400
- Формат:
- 149x216 мм
- Вес:
- 0.52 кг
Отзывов ещё нет — вы можете быть первым.
Дарим до 50 бонусов за отзыв